Contributors
| T. Ozaki (Univ. of Tokyo) | Y. Shiihara (Toyota Tech. Inst.) | |
| H. Kino (NIMS) | M. Toyoda (Tokyo Inst. Tech.) | |
| J. Yu (SNU) | Y. Okuno (FUJIFILM) | |
| M.J. Han (KAIST) | R. Perez (UAM) | |
| M. Ohfuchi (Fujitsu Labs.) | P.P. Bell (UAM) | |
| F. Ishii (Kanazawa Univ.) | M. Ellner (UAM) | |
| K. Sawada (RIKEN) | Yang Xiao (NUAA) | |
| Y. Kubota (Kanazawa Univ.) | A.M. Ito (NIFS) | |
| Y.P. Mizuta (Kanazawa Univ.) | M. Kawamura (Univ. of Tokyo) | |
| T. Ohwaki (NISSAN ARC) | K. Yoshimi (Univ. of Tokyo) | |
| T.V.T Duy (NISSAN ARC) | C.-C. Lee (Univ. of Tokyo) | |
| H. Weng (CAS) | K. Terakura (NIMS) |